3 - 5 Aralık 2020 tarihleri arasında, Çin Metroloji Akademisi Isı Mühendisliği Enstitüsü'nün sponsorluğunda ve Pan Ran Ölçüm ve Kontrol Technology Co., Ltd.'nin ortaklaşa düzenlediği "Araştırma ve Geliştirme" konulu teknik bir seminer Yüksek Hassasiyetli Standart Dijital Termometreler" ve bir grup "Hassas Dijital Termometre Performans Değerlendirme Yöntemleri" Standart derleme toplantısı, Beş Dağ'ın başı olan Tai Dağı'nın eteklerinde başarılı bir sonuca ulaştı!
Bu toplantıya katılanlar çoğunlukla çeşitli metroloji enstitülerinden ve Çin Jiliang Üniversitesi'nden ilgili uzmanlar ve profesörlerdir.Şirketimizin genel müdürü Bay Zhang Jun, bu toplantıya başkanlık etmek üzere davet edildi.Bay Zhang, tüm uzmanların gelişini memnuniyetle karşılıyor ve yıllar boyunca Pan Ran'a verdiğiniz destek ve yardım için öğretmenlere teşekkür ediyor.Dijital termometrelerin ilk lansman toplantısının üzerinden 4 yıl geçti.Bu dönemde dijital termometreler hızla gelişti ve daha kararlı hale geldi.Görünüm ne kadar yüksek olursa, görünüm o kadar hafif ve özlü olur ki bu da hızlı teknolojik gelişmenin ve tüm bilimsel araştırmacıların çabalarının ayrılmaz bir parçasıdır.Katkılarınız için teşekkür ederiz ve konferansın başlangıcını duyurun
Toplantı sırasında, Çin Metroloji Akademisi Isı Mühendisliği Enstitüsü'nün yardımcı araştırmacısı Bay Jin Zhijun, "yüksek hassasiyetli standart dijital termometrenin Ar-Ge aşamasını" özetledi ve yüksek hassasiyetli standart dijital termometrenin ana araştırma içeriğini tanıttı. standart dijital termometre.Elektrikli ölçüm cihazlarının tasarımı, gösterge hatası ve kararlılığı açıklanmış, kararlı bir ısı kaynağının sonuçlar üzerindeki önemi ve etkisine dikkat çekilmiştir.
PANRAN şirketinin Ar-Ge departmanı yöneticisi Bay Xu Zhenzhen, "Hassas Dijital Termometrelerin Tasarımı ve Analizi" temasını paylaştı.Direktör Xu, hassas dijital termometreler, entegre dijital termometrelerin yapısı ve ilkeleri, belirsizlik analizi ve üretim sırasındaki performans hakkında genel bir bakış sundu.Değerlendirmenin beş bölümü ve birkaç temel konu paylaşıldı ve dijital termometrelerin tasarımı ve analizi ayrıntılı olarak gösterildi.
Çin Metroloji Akademisi Isı Mühendisliği Enstitüsü'nün yardımcı araştırmacısı Bay Jin Zhijun, üç yılın sonuçlarını gösteren "2016-2018 Hassas Dijital Termometre Test Özeti" hakkında bir rapor verdi.Çin Metroloji Akademisi Isı Mühendisliği Enstitüsü'nde yardımcı araştırmacı olan Qiu Ping, "Standart Dijital Termometrelerle İlgili Konular Üzerine Tartışma"yı paylaştı.
Toplantıda hassas dijital termometrelerin geliştirilmesi ve uygulanması, hassas dijital termometre değerlendirme yöntemleri (grup standartları), hassas dijital termometre test yöntemleri ve test planları da paylaşıldı ve tartışıldı.Bu fikir alışverişi ve tartışma, Ulusal Anahtar Araştırma ve Geliştirme Programının (NQI) uygulanması açısından önemlidir.“Yeni Nesil Yüksek Hassasiyetli Termometre Standartlarının Araştırma ve Geliştirilmesi” projesinde, “Yüksek Hassasiyetli Standart Dijital Termometrelerin Araştırma ve Geliştirilmesi” ilerlemesi, “Hassaslık Performans Değerlendirme Yöntemleri” grup standartlarının derlenmesi Dijital Termometreler” ve standart cıvalı termometrelerin hassas dijital termometrelerle değiştirilmesinin fizibilitesi çok iyi oldu.
Toplantı sırasında Çin Metroloji Enstitüsü Isı Mühendisliği Enstitüsü Müdürü Bay Wang Hongjun gibi uzmanlar, şirketimizin genel müdürü Bay Zhang Jun'un eşliğinde şirketin sergi salonunu, üretim atölyesini ve laboratuvarını ziyaret ederek, ürünlerimiz hakkında bilgi aldılar. Şirketin bilimsel araştırma ve üretim kapasitesi, şirket geliştirme vb. Uzmanlar firmamızı onayladı.Direktör Wang, şirketin bilimsel araştırma ve üretim düzeyini sürekli olarak geliştirmek ve ulusal metroloji endüstrisine daha fazla katkı sağlamak için kendi avantajlarına güvenebileceğini umduğunu belirtti.
Gönderim zamanı: 21 Eylül 2022
